電気・電子機器
TEMSシステム 電気・電子機器用測定システム
お問い合わせEMI測定システム
放射雑音測定 |
広帯域アンテナを使用して被測定物からの放射雑音を測定 測定環境:電波暗室・オープンエリアテストサイト 測定可能周波数:30MHz~3GHz 対応規格:CISPR/FCC /VCCI /EN55022/EN55011 〔オプション対応:CISPR25, 95/54/EC〕 |
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電源端子雑音測定 |
擬似電源回路網(LISN)を使用し被測定物の伝導性雑音を測定 測定環境:シールドルーム 測定可能周波数:9kHz~30MHz 対応規格:CISPR/FCC /VCCI /EN55022/EN55011/EN55014/電安法等 [オプション対応:CISPR25] |
放射雑音 マイクロ波帯測定 |
ホーンアンテナ等を使用して被測定物からの放射雑音を測定 測定環境:電波暗室・オープンエリアテストサイト 測定可能周波数:1GHz~40GHz 対応規格:CISPR/FCC |
妨害電力測定 (クランプ法) |
吸収クランプを使用して被試験物に接続されたケーブルからの漏洩電力を測定 測定環境:シールドルーム 測定可能周波数:30MHz~300MHz 対応規格:CISPR/電安法等 |
磁界強度測定 |
ループアンテナを使用して被測定物からの放射雑音を測定 測定環境:シールドルーム 測定可能周波数:9kHz~30MHz 対応規格:EN55011/ FCC P18等 |
電界強度測定 |
ロッドアンテナを使用しシールドルームに置かれた被測定物からの放射雑音を測定 測定環境:シールドルーム 測定可能周波数:9kHz~30MHz 対応規格:[オプション対応:CISPR25] |
サイトアッテネーション測定 |
EMI測定用電波暗室の適合性評価測定 測定環境:電波暗室・オープンエリアテストサイト 測定可能周波数:30MHz~1GHz 対応規格:ANSI C63.4 |
ダイポール用 サイトアッテネーション測定 |
ダイポールアンテナを使用してEMI測定を行う電波暗室の適合性評価測定 測定可能周波数:30MHz~1GHz 対応規格:ANSI C63.4, VCCI技術基準規格 |
ケーブルロス測定 |
EMI測定で使用するケーブルのロスを測定 測定結果はそのままEMI測定で使用可能。 測定可能周波数:30MHz~1GHz |
EMS試験システム
放射性 イミュニティ試験 |
被試験物に一定の電界を与え、試験物の耐久性(イミュニティ)を試験 試験環境:電波暗室 試験可能周波数:26MHz~40GHz 対応規格:IEC61000-4-3等 |
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伝導性 イミュニティ試験 |
被試験物のケーブルに一定の電流を与え、試験物の妨害耐性(イミュニティ)を試験 試験環境:電波暗室 試験可能周波数:150kHz ~ 230MHz 対応規格:IEC61000-4-6等 |
電界均一性測定 |
放射イミュニティ測定用の電波暗室が一定の電界を与えるか、16ポイントの測定を行いOK/NGの自動判定を実施 試験可能周波数:26MHz~1GHz 対応規格:JEIDA-52-1998, IEC61000-4-3等 |