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電気・電子機器用測定システム(EMI測定,EMS試験)

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電気・電子機器

TEMSシステム 電気・電子機器用測定システム

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EMI測定システム
放射雑音測定 広帯域アンテナを使用して被測定物からの放射雑音を測定
測定環境:電波暗室・オープンエリアテストサイト
測定可能周波数:30MHz~3GHz
対応規格:CISPR/FCC /VCCI /EN55022/EN55011
〔オプション対応:CISPR25, 95/54/EC〕
電源端子雑音測定 擬似電源回路網(LISN)を使用し被測定物の伝導性雑音を測定
測定環境:シールドルーム
測定可能周波数:9kHz~30MHz
対応規格:CISPR/FCC /VCCI /EN55022/EN55011/EN55014/電安法等
[オプション対応:CISPR25]
放射雑音
マイクロ波帯測定
ホーンアンテナ等を使用して被測定物からの放射雑音を測定
測定環境:電波暗室・オープンエリアテストサイト
測定可能周波数:1GHz~40GHz
対応規格:CISPR/FCC
妨害電力測定
(クランプ法)
吸収クランプを使用して被試験物に接続されたケーブルからの漏洩電力を測定
測定環境:シールドルーム
測定可能周波数:30MHz~300MHz
対応規格:CISPR/電安法等
磁界強度測定 ループアンテナを使用して被測定物からの放射雑音を測定
測定環境:シールドルーム
測定可能周波数:9kHz~30MHz
対応規格:EN55011/ FCC P18等
電界強度測定 ロッドアンテナを使用しシールドルームに置かれた被測定物からの放射雑音を測定
測定環境:シールドルーム
測定可能周波数:9kHz~30MHz
対応規格:[オプション対応:CISPR25]
サイトアッテネーション測定 EMI測定用電波暗室の適合性評価測定
測定環境:電波暗室・オープンエリアテストサイト
測定可能周波数:30MHz~1GHz
対応規格:ANSI C63.4
ダイポール用
サイトアッテネーション測定
ダイポールアンテナを使用してEMI測定を行う電波暗室の適合性評価測定
測定可能周波数:30MHz~1GHz
対応規格:ANSI C63.4, VCCI技術基準規格
ケーブルロス測定 EMI測定で使用するケーブルのロスを測定
測定結果はそのままEMI測定で使用可能。
測定可能周波数:30MHz~1GHz
EMS試験システム
放射性
イミュニティ試験
被試験物に一定の電界を与え、試験物の耐久性(イミュニティ)を試験
試験環境:電波暗室
試験可能周波数:26MHz~40GHz
対応規格:IEC61000-4-3等
伝導性
イミュニティ試験
被試験物のケーブルに一定の電流を与え、試験物の妨害耐性(イミュニティ)を試験
試験環境:電波暗室
試験可能周波数:150kHz ~ 230MHz
対応規格:IEC61000-4-6等
電界均一性測定 放射イミュニティ測定用の電波暗室が一定の電界を与えるか、16ポイントの測定を行いOK/NGの自動判定を実施
試験可能周波数:26MHz~1GHz
対応規格:JEIDA-52-1998, IEC61000-4-3等
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