電気・電子機器
TEMSシステム 電気・電子機器用測定システム
お問い合わせEMI測定システム
| 放射雑音測定 |
広帯域アンテナを使用して被測定物からの放射雑音を測定 測定環境：電波暗室・オープンエリアテストサイト 測定可能周波数：30MHz～3GHz 対応規格：CISPR/FCC /VCCI /EN55022/EN55011 〔オプション対応：CISPR25, 95/54/EC〕 |
|---|---|
| 電源端子雑音測定 |
擬似電源回路網（LISN）を使用し被測定物の伝導性雑音を測定 測定環境：シールドルーム 測定可能周波数：9kHz～30MHz 対応規格：CISPR/FCC /VCCI /EN55022/EN55011/EN55014/電安法等 [オプション対応：CISPR25] |
| 放射雑音 マイクロ波帯測定 |
ホーンアンテナ等を使用して被測定物からの放射雑音を測定 測定環境：電波暗室・オープンエリアテストサイト 測定可能周波数：1GHz～40GHz 対応規格：CISPR/FCC |
| 妨害電力測定 （クランプ法） |
吸収クランプを使用して被試験物に接続されたケーブルからの漏洩電力を測定 測定環境：シールドルーム 測定可能周波数：30MHz～300MHz 対応規格：CISPR/電安法等 |
| 磁界強度測定 |
ループアンテナを使用して被測定物からの放射雑音を測定 測定環境：シールドルーム 測定可能周波数：9kHz～30MHz 対応規格：EN55011/ FCC P18等 |
| 電界強度測定 |
ロッドアンテナを使用しシールドルームに置かれた被測定物からの放射雑音を測定 測定環境：シールドルーム 測定可能周波数：9kHz～30MHz 対応規格：[オプション対応：CISPR25] |
| サイトアッテネーション測定 |
EMI測定用電波暗室の適合性評価測定 測定環境：電波暗室・オープンエリアテストサイト 測定可能周波数：30MHz～1GHz 対応規格：ANSI C63.4 |
| ダイポール用 サイトアッテネーション測定 |
ダイポールアンテナを使用してEMI測定を行う電波暗室の適合性評価測定 測定可能周波数：30MHz～1GHz 対応規格：ANSI C63.4, VCCI技術基準規格 |
| ケーブルロス測定 |
EMI測定で使用するケーブルのロスを測定 測定結果はそのままEMI測定で使用可能。 測定可能周波数：30MHz～1GHz |
EMS試験システム
| 放射性 イミュニティ試験 |
被試験物に一定の電界を与え、試験物の耐久性（イミュニティ）を試験 試験環境：電波暗室 試験可能周波数：26MHz～40GHz 対応規格：IEC61000-4-3等 |
|---|---|
| 伝導性 イミュニティ試験 |
被試験物のケーブルに一定の電流を与え、試験物の妨害耐性（イミュニティ）を試験 試験環境：電波暗室 試験可能周波数：150kHz ～ 230MHz 対応規格：IEC61000-4-6等 |
| 電界均一性測定 |
放射イミュニティ測定用の電波暗室が一定の電界を与えるか、16ポイントの測定を行いOK/NGの自動判定を実施 試験可能周波数：26MHz～1GHz 対応規格：JEIDA-52-1998, IEC61000-4-3等 |
